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고성능 STM 탐침

앞장

STM 탐침

AFM 탐침

나노탄소탐침

초고진공 상태와 대기 중에서 탁월한 주사탐침현미경(Scanning Tunneling Microscope) 측정을 위해 사용되는 고성능 STM탐침들입니다. 탐침의 재질로는 텅스텐, 니켈,

플래틴이리디움합금을 사용합니다. 기계적으로 정밀가공하고 전기적으로 표면 처리하여 탐침의 끝단을 날카로운 바늘모양으로 만든 여러 가지 고성능 STM 탐침들을 공급합니다.

1 set 안에 10개의 탐침이 있습니다.

Pt/Ir STM tip (mechanical grind)

형태	재질	길이	지름	Polishing	반경	용도
Cone shape	Polycrystalline Pt/Ir	10mm	0.50mm	Mechanical Grind	50nm	STM 측정

Pt/Ir STM tip (electro-polishing)

형태	재질	길이	지름	Polishing	반경	용도
Cone shape	Polycrystalline Pt/Ir	10mm	0.50mm	Electro-polishing	20nm	STM 측정

Tungsten STM tip (electro-polishing)

형태	재질	길이	지름	Polishing	반경	용도
Cone shape	Polycrystalline Tungsten	10mm	0.25mm	Electro-polishing	35nm	STM 측정

Nikkel STM tip (electro-polishing)

형태	재질	길이	지름	Polishing	반경	용도
Cone shape	Polycrystalline Ni	10mm	0.25mm	Electro-polishing	25nm	STM 측정

Ag STM tip

형태	재질	길이	지름	Polishing	반경	용도
Cone shape	Polycrystalline Ag	10mm	0.4mm	Electro-polishing	50nm	STM 측정

Au (0.1mm) STM tip

형태	재질	길이	지름	Polishing	반경	용도
Cone shape	Polycrystalline Au	10mm	0.1mm	Electro-polishing	20-60nm	STM 측정

Au (0.25mm) STM tip

형태	재질	길이	지름	Polishing	반경	용도
Cone shape	Polycrystalline Au	10mm	0.25mm	Electro-polishing	20-40nm	STM 측정

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