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나노탄소탐침 – Fast Scanning

앞장

Extreme Aspect Ratio	High Aspect Ratio	Spike small and sharp	MCNT
Enhanced Resolution	Fast Scanning	3D CD Metrokogy	EBD-TESPA AFM Probes
High Resolution AFM Probes	Life Science	Nanoindentation

나노 단위의 표면거칠기로 인한 탐침의 부작용과 상관없는 정밀한 위치와 재현성 있는 측정을 위한 구면의 선대칭 AFM 탐침

고성능 나노결각측정을 AFM 구형 탐침

정렬선이 있는 Chip, 금 피복이 되어 있는 Cantilever, 구면의 탄소tip으로 구성

Quantum Pro 탄소탐침 사양

	Quantum Pro
Material	HDC/DLC
Shape	conical
Tip length / l	6000nm
Diameter / d	n/a
Half cone angle	n/a
Radius / r	5nm
Tilt compensation	12 degrees
Pyramid height / PH	6um
Tip set back / TSB	n/a
Cantilever Parameter
Material	quarts
Shape	rectangular
Length	30um
Width	20um
Thickness	1.25um
Force constant	18N/m
Resonance frequency	1.2MHz
Tip side coating	none
Back side coating	reflex
Chip Parameter
Length	3400um
Width	1600um
Thickness	315um
Alignment grooves	no

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